国家知识产权局信息显示,德州仪器公司申请一项名为“在STI上方具有场板间隔件的半导体装置”的专利,公开号CN122121220A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本公开涉及在STI上方具有场板间隔件的半导体装置。描述了半导体装置及其制造方法。举例来说,一种半导体装置[102]包含:源极区[124]和漏极区[116],其具有第一导电类型,安置在具有相反的第二导电类型的半导体层[112]中;浅沟槽隔离结构[118],其在所述半导体层[112]中安置在所述源极区[124]与所述漏极区[116]之间;栅极介电层[130],其安置在所述半导体层[112]上方并且在所述源极区[124]与所述浅沟槽隔离结构[118]之间延伸;栅电极[132],其安置在所述栅极介电层[130]上方并且朝向所述漏极区[116]以及在所述浅沟槽隔离结构[118]上方延伸;以及场板间隔件[128],其在所述栅电极[132]与所述浅沟槽隔离结构[118]之间。
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来源:市场资讯