国家知识产权局信息显示,上海新微半导体有限公司申请一项名为“半导体结构的制备方法及半导体结构”的专利,公开号CN121772251A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明提供一种半导体结构的制备方法及半导体结构,包括以下步骤:提供衬底,在衬底上形成外延结构,并在外延结构上形成依次堆叠的刻蚀停止层及高阻层;图形化刻蚀停止层及高阻层,以定义出器件区和电阻区,器件区的刻蚀停止层及高阻层得以去除,而电阻区的刻蚀停止层及高阻层得以保留;在器件区及电阻区的表面形成金属电极,并进行退火;对器件区与电阻区的交界处进行离子注入形成电性隔离区;刻蚀位于器件区的外延结构形成栅极凹槽,并在栅极凹槽内形成栅极结构。本发明提供半导体结构的制备方法通过在外延结构上形成高阻层,并通过图形化和离子注入实现器件区与电阻区的区分和隔离,解决现有高阻元件制备工艺复杂、成本高且集成度低的问题。
天眼查资料显示,上海新微半导体有限公司,成立于2020年,位于上海市,是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本270950万人民币。通过天眼查大数据分析,上海新微半导体有限公司参与招投标项目846次,财产线索方面有商标信息5条,专利信息145条,此外企业还拥有行政许可98个。
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来源:市场资讯