英飞凌申请用于测量晶体管器件的内部电容的方法和评估电路专利，可确定第一内部电容中存储的电荷或其电容值
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2026-01-12 22:08:07
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国家知识产权局信息显示，英飞凌科技股份有限公司申请一项名为“用于测量晶体管器件的内部电容的方法和评估电路”的专利，公开号CN121299240A，申请日期为2025年6月。
专利摘要显示，公开了用于测量晶体管器件的内部电容的方法和评估电路。该方法包括：在晶体管器件(1)的第一负载路径节点(11)与第二负载路径节点(12)之间施加具有预定义电压电平的负载路径电压；测量控制节点(13)与第二负载路径节点(12)之间的电压以获得电压测量值；以及基于所述电压测量值并且基于在控制节点(13)与第二负载路径节点(12)之间有效的第二内部电容(31)的电容值来确定在第一负载路径节点(11)与控制节点(13)之间有效的第一内部电容(21)中存储的电荷或者第一内部电容(21)的电容值(C21)中的至少一者。
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