态坦测试申请基于模式语言的存储芯片测试方法专利，有效降低编码失误率_元器件

态坦测试申请基于模式语言的存储芯片测试方法专利，有效降低编码失误率

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2026-01-10 16:08:27

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国家知识产权局信息显示，成都态坦测试科技有限公司申请一项名为“基于模式语言的存储芯片测试方法、系统、设备及介质”的专利，公开号CN121301166A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本发明提供一种基于模式语言的存储芯片测试方法、系统、设备及介质，涉及芯片测试技术领域，该方法包括：根据模式语言特性对编辑过程中的模式语言代码进行错误检测，获得错误检测结果；根据错误检测结果对模式语言代码进行错误修正，获得模式语言文件；根据模式语言文件构建语法树，并将语法树转换成机器码，获得测试执行文件；根据测试执行文件对目标存储芯片进行测试，获得测试结果。本发明结合模式语言特性能全面准确检测语法和关键字错误，有效降低编码失误率，提高测试结果准确性，同时对模式语言文件进行编译拓宽了模式语言的应用范围，有效加快存储芯片测试流程，提升了整体工作效率。

天眼查资料显示，成都态坦测试科技有限公司，成立于2023年，位于成都市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2448万人民币。通过天眼查大数据分析，成都态坦测试科技有限公司共对外投资了3家企业，财产线索方面有商标信息13条，专利信息112条，此外企业还拥有行政许可1个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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