珑鑫玉科技申请基于多光谱成像的芯片缺陷检测仪专利，实现芯片全方位无死角检测
创始人
2026-03-05 09:13:31
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国家知识产权局信息显示，深圳市珑鑫玉科技有限公司申请一项名为“基于多光谱成像的芯片缺陷检测仪”的专利，公开号CN121595576A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片检测的技术领域，具体为基于多光谱成像的芯片缺陷检测仪，包括检测仪主体，检测仪主体的正面中心处设置有放料口，检测仪主体的内部设置有可调节的固定机构，在固定机构的上方设置有取像机构。本发明通过优化固定与取像结构，结合多光谱成像与智能分析系统，实现芯片全方位无死角检测。固定机构的多维调节能力保障了检测稳定性与全面性，取像机构的光谱切换与光路设计提升了缺陷识别精度。设备集成自动化流程与智能分析功能，大幅降低漏检率与人工干预，兼容多种规格芯片，兼顾检测效率与精细化水平，为芯片制造质量管控提供高效、精准的解决方案，助力提升芯片产品可靠性与市场竞争力。
天眼查资料显示，深圳市珑鑫玉科技有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市珑鑫玉科技有限公司专利信息4条，此外企业还拥有行政许可5个。
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来源：市场资讯
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