国家知识产权局信息显示,上海艾为半导体技术有限公司申请一项名为“测试电路、测试方法和测试系统”的专利,公开号CN122259929A,申请日期为2026年3月。
专利摘要显示,本申请涉及一种测试电路、测试方法和测试系统。测试电路包括:检测线,包括第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线,第一检测线的第一端和第三检测线的第一端分别与被测电路的第一输出端连接,第二检测线的第一端和第四检测线的第一端分别与被测电路的第二输出端连接;可控电源检测模块,分别与第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线的第二端连接,用于在处于开路工作模式的情况下,通过第三检测线和第四检测线检测第一输出端与第二输出端之间的电压值;以及在处于零电压工作模式的情况下,通过第一检测线和第二检测线检测流经第一输出端和第二输出端的电流值。本申请的测试电路具有测试精度高的优点。
天眼查资料显示,上海艾为半导体技术有限公司,成立于2020年,位于上海市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本94563.2万人民币。通过天眼查大数据分析,上海艾为半导体技术有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目1次,专利信息17条,此外企业还拥有行政许可24个。
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来源:市场资讯