山金工业 OTSUKA 大塚電子 ELSZ-2000 电位及粒度分析仪

ELSZ-2000是日本大塚电子(OTSUKA)出品、国内代理商分销的Zeta电位·粒径·分子量三合一分析仪,属于高精度纳米颗粒表征设备,在科研和工业领域都有广泛应用,核心信息整理如下:
核心性能与参数
该设备集成动态光散射(DLS)、电泳光散射(ELS)、静态光散射(SLS)三种技术,可一台设备完成三类参数检测:
表格

核心功能特点
- 高精度适配复杂样品:通过电渗流实测+图谱分析实现高精度Zeta电位测量,支持高盐浓度样品、高浓度悬浊样品直接测量,无需稀释即可得到准确数据,避免稀释带来的误差。
- 拓展性强:支持小面积固体样品(15mm×35mm)的平板Zeta电位测量,也可搭配自动滴定仪完成pH 1~13范围内的等电点分析。
- 效率提升:搭载新型高灵敏度APD检测器,提升检测灵敏度的同时将测量时间缩短约50%,支持7×24小时连续运行,适配科研高频使用需求。
- 特殊分析功能:自带0~90℃自动温度梯度功能,可分析样品的变性温度、相变温度,满足特殊材料热稳定性研究需求。
应用领域
覆盖多类科研和工业场景:
- 科研:纳米材料分散性研究、生物医药蛋白分子量与聚集度检测、纳米药物递送系统表征
- 工业:半导体CMP研磨液颗粒监控、食品化妆品乳液稳定性测试、陶瓷/颜料分散性调控、燃料电池新材料表征等