国家知识产权局信息显示,南亚科技股份有限公司申请一项名为“存储器测试装置及其控制方法”的专利,公开号CN122658391A,申请日期为2026年6月。
专利摘要显示,一种存储器测试装置,用于存储器装置且包括电源管理电路、第一去耦电容器、以及第二去耦电容器。电源管理电路用以产生第一电压与第二电压。第一去耦电容器耦接电源管理电路,且用以调节第一电压至第三电压。第二去耦电容器耦接电源管理电路,且用以调节第二电压至第四电压。第一去耦电容器与第二去耦电容器将第三电压与第四电压的至少一者耦合至存储器装置,以对存储器装置进行测试步骤。通过上述存储器测试装置,达到在存储器装置封装前,对其进行运行测试。
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