国家知识产权局信息显示,悟劳茂材料公司申请一项名为“半导体测试装置及其制造方法”的专利,公开号CN121076052A,申请日期为2024年11月。
专利摘要显示,本发明涉及半导体测试装置及其制造方法。根据本发明的一实施例的半导体测试装置,其特征为,夹设于半导体存储器之间或者半导体存储器与插入件(Interposer)之间,用于测试电连接。
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