上海集成电路研发中心申请图像畸变处理方法及装置专利，提高畸变系数标定的准确率_电子电器

上海集成电路研发中心申请图像畸变处理方法及装置专利，提高畸变系数标定的准确率

创始人

2026-03-14 13:58:17

0次

国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司申请一项名为“应用于图像采集装置采集的图像的畸变处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品”的专利，公开号CN121660941A，申请日期为2024年9月。

专利摘要显示，本申请实施例提供一种应用于图像采集装置采集的图像的畸变处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品。该方法包括：获取多张畸变图像；基于畸变图像的亮度信息和预设的第一划分规则，确定畸变图像的第一标定区域；将畸变图像的第一标定区域以外的图像区域划分为位于第一标定区域外围的多层第二标定区域；基于畸变图像的每一个标定区域包含的圆弧线的曲率信息，确定标定区域包含的像素点对应的候选畸变系数；基于图像采集装置的成像像素点在多张畸变图像上生成的像素点对应的候选畸变系数，确定图像采集装置的成像像素点对应的畸变系数。该方法用以达到提高畸变系数标定的准确率，从而提高对图像的畸变校正的效果。

天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目294次，财产线索方面有商标信息103条，专利信息2171条，此外企业还拥有行政许可88个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资信息装置处理系数图像集成电路畸变专利畸变系数像素

上一篇：惠科申请显示面板的驱动电路和显示装置专利，不会出现开机闪屏

下一篇：旭金电子申请电感器线圈绕线弯角装置专利，极大提升产品一致性

上海集成电路研发中心申请图像畸变处理方法及装置专利，提高畸变系数标定的准确率

相关内容

热门资讯