广立微电子申请并行测试及模块信息转换方法专利，极大提高了模块信息转换效率和准确率_电子电器

广立微电子申请并行测试及模块信息转换方法专利，极大提高了模块信息转换效率和准确率

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2026-03-09 09:41:42

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国家知识产权局信息显示，杭州广立微电子股份有限公司申请一项名为“并行测试方法及模块信息转换方法、装置和可读存储介质”的专利，公开号CN121613289A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及一种并行测试方法及模块信息转换方法、装置和可读存储介质，包括：获取多个测试模块的模块信息并建立模块映射表，对所述模块映射表中的测试模块进行排序；利用所述模块映射表，根据并行测试需求，将所述多个测试模块合并成多个模块阵列；根据所述测试模块的焊盘数量和序号，计算所述测试模块在所属模块阵列中的多个焊盘值；依次选取所述模块阵列进行并行测试，并基于所述模块阵列中测试模块的多个焊盘值，确定并行测试设备的外部引脚扎针分配方式。能基于顺序测试的模块信息和并行测试需求，自动完成模块合并和焊盘信息转换，极大提高了模块信息转换效率和准确率，进而利用并行测试提高了芯片测试效率。

天眼查资料显示，杭州广立微电子股份有限公司，成立于2003年，位于杭州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本20028.1088万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州广立微电子股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目50次，财产线索方面有商标信息92条，专利信息259条，此外企业还拥有行政许可57个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资信息极大提高广立测试模块微电子并行专利阵列模块映射表焊盘值

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