海光申请SoC芯片、CP测试系统及存储器控制器的CP测试方法专利，支持在CP测试阶段进行SoC芯片的功能测试_元器件

海光申请SoC芯片、CP测试系统及存储器控制器的CP测试方法专利，支持在CP测试阶段进行SoC芯片的功能测试

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2025-12-08 14:36:05

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国家知识产权局信息显示，海光集成电路设计（北京）有限公司申请一项名为“SoC芯片、CP测试系统及存储器控制器的CP测试方法”的专利，公开号CN121075398A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明提供一种SoC芯片，包括：待测试的硬件模块；导入控制模块，与片内微处理器连接，用于在进行CP测试时，将CP测试机台下发的功能测试代码导入到片内微处理器，并控制片内微处理器启动执行功能测试代码；片内微处理器，与待测试的硬件模块连接，用于执行功能测试代码，以实现对待测试的硬件模块进行功能测试，生成测试结果；交互模块，与片内微处理器连接，用于提供片内微处理器和CP测试机台交互数据的路径，辅助片内微处理器向CP测试机台反馈测试结果。本发明能够支持在CP测试阶段进行SoC芯片的功能测试。

天眼查资料显示，海光集成电路设计（北京）有限公司，成立于2016年，位于北京市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本30000万人民币。通过天眼查大数据分析，海光集成电路设计（北京）有限公司专利信息55条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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