国家知识产权局信息显示,索尼半导体解决方案公司申请一项名为“光电检测装置和电子设备”的专利,公开号CN122397336A,申请日期为2024年12月。
专利摘要显示,提供了一种抑制了性能劣化的光电检测装置。光电检测装置包括:半导体层,其具有作为光入射面的一面和作为元件形成面的另一面,该半导体层具有多个单元区域,多个单元区域被从光入射面延伸到元件形成面的隔离壁彼此隔离;元件隔离结构,其由绝缘材料制成,设置在相应的单元区域的元件形成面侧,并且在平面图中将单元区域的元件形成面侧划分成多个有源区域;贯通孔,其沿着厚度方向贯穿元件隔离结构;以及导体,其设置在所述贯通孔内,该导体的作为光入射面侧的端部的第一端部与单元区域中的半导体部分接触。单元区域包括光电转换区域,并且参考电位通过导体被供给至单元区域。
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来源:市场资讯