祺睿信息科技申请芯片测试系统自动化框架设计专利，实现芯片测试路径智能生成与根因定位_元器件

祺睿信息科技申请芯片测试系统自动化框架设计专利，实现芯片测试路径智能生成与根因定位

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2026-03-30 20:58:45

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国家知识产权局信息显示，湖南祺睿信息科技有限公司申请一项名为“一种用于芯片测试系统的自动化框架设计方法和系统”的专利，公开号CN121743111A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种用于芯片测试系统的自动化框架设计方法和系统，包括如下步骤：步骤一：获取目标芯片的功能模块结构信息并构建芯片功能图谱；步骤二：通过图神经网络提取每个节点的嵌入表示并进行聚合；步骤三：接收用户输入的测试目标信息生成测试意图向量，并进行相似度匹配；步骤四：基于测试起始节点进行马尔可夫决策生成测试路径序列；步骤五：对目标芯片的对应功能模块依次进行测试激励与响应采集；步骤六：通过改进的AMIE+因果推理模型构建故障因果图谱，并识别故障根因模块生成测试路径调整建议。本发明融合马尔可夫决策与改进的AMIE+因果推理模型，实现芯片测试路径智能生成与根因定位。

天眼查资料显示，湖南祺睿信息科技有限公司，成立于2018年，位于长沙市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，湖南祺睿信息科技有限公司参与招投标项目162次，专利信息4条。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

进行步骤马尔可夫信息路径因果测试芯片自动化专利模块

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