翰迈电子申请存储器内建自测试方法专利，显著提升故障覆盖率_元器件

翰迈电子申请存储器内建自测试方法专利，显著提升故障覆盖率

创始人

2026-03-14 23:20:01

0次

国家知识产权局信息显示，上海翰迈电子科技有限公司申请一项名为“存储器内建自测试方法和装置、测试系统及电子设备”的专利，公开号CN121662133A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本公开提供存储器内建自测试方法和装置、测试系统及电子设备。所述存储器内建自测试方法包括：基于I2C通信协议获取测试开始使能信号；响应于测试开始使能信号，生成多组测试向量；基于存储器的工作时钟信号，将各组测试向量依次写入存储器，并从存储器读取对应的输出数据；将输出数据与预期写入数据进行一致性比对，以生成存储器测试信息；基于I2C通信协议输出所述存储器测试信息。本公开具备全面的故障检测能力，能够实现固定型故障、部分耦合故障、跳变故障以及相邻图像敏感故障等多种类型的故障检测，显著提升了故障覆盖率。此外，本公开的操作流程简单易行，兼容性强，无需借助额外的测试工具即可开展工作，整体测试效率高。

天眼查资料显示，上海翰迈电子科技有限公司，成立于2017年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海翰迈电子科技有限公司共对外投资了3家企业，专利信息19条，此外企业还拥有行政许可8个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

方法自测试投资信息电子显著提升存储器故障专利内建天眼信号

上一篇：伊顿申请使用分级开关的电感器连接以在电流中断期间实现可变电感的电路中断器专利，降低通过中断器模块的电流

下一篇：杰瑞电子申请集成自举功能的高压栅驱动芯片专利，充电效率高

翰迈电子申请存储器内建自测试方法专利，显著提升故障覆盖率

相关内容

热门资讯