新智源申请芯片信号完整性测试分析方法专利，精准高效检测芯片信号异常部位_元器件

新智源申请芯片信号完整性测试分析方法专利，精准高效检测芯片信号异常部位

创始人

2026-02-26 20:44:17

0次

国家知识产权局信息显示，深圳市新智源科技有限公司申请一项名为“芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN121559287A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括以下步骤：基于芯片设计需求文档提取芯片性能指标；基于芯片性能指标进行饱和频率激励设定，生成激励测试信号；基于激励测试信号进行多端口信号激励测试及并行信号采样，生成高信噪比响应数据集；获取芯片版图设计文件；对芯片版图设计文件进行芯片通信链路分析，构建通信线路布局数据；基于高信噪比响应数据集对通信线路布局数据进行信号映射及波形质量评估，得到节点信号畸变率；基于节点信号畸变率进行信号完整性量化及理论信号完整性评分比对，标记故障节点。本发明提高芯片测试效率，精准，高效检测芯片信号异常部位。

天眼查资料显示，深圳市新智源科技有限公司，成立于2020年，位于深圳市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市新智源科技有限公司财产线索方面有商标信息1条，专利信息8条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

进行数据检测测试深圳市芯片完整性信号畸变专利畸变率高信噪

上一篇：平高电气申请柱上箱式负荷开关及气箱专利，实现合闸接地确保维修保养作业安全

下一篇：蔚来芯片子公司完成首轮超22亿元融资协议签署

新智源申请芯片信号完整性测试分析方法专利，精准高效检测芯片信号异常部位

相关内容

热门资讯