康芯威申请存储器测试系统专利，在不同环境温度下对所有待测存储器进行并行测试_元器件

康芯威申请存储器测试系统专利，在不同环境温度下对所有待测存储器进行并行测试

创始人

2026-06-26 16:55:27

0次

国家知识产权局信息显示，合肥康芯威存储技术有限公司申请一项名为“一种存储器的测试系统”的专利，公开号CN122290680A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，本发明提供了一种存储器的测试系统，包括：上位机；至少一个读卡器，与所述上位机通信连接，每个所述读卡器上对应通信连接有待测存储器；温箱，所述待测存储器和所述读卡器均置于所述温箱内；其中，所述上位机用于控制各个待测存储器分别执行对应测试，并同时控制所述温箱调节其内部温度变化，以在不同环境温度下对所有待测存储器进行并行测试。通过本发明提供的一种存储器的测试系统，以解决目前针对存储器的测试难以实现低成本、高效率的技术问题。

天眼查资料显示，合肥康芯威存储技术有限公司，成立于2018年，位于合肥市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本9032.625万人民币。通过天眼查大数据分析，合肥康芯威存储技术有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目35次，财产线索方面有商标信息15条，专利信息301条，此外企业还拥有行政许可5个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业温度投资测试存储器康芯威环境系统并行专利温箱读卡器合肥上位机

上一篇：32位单片机XL32F001，主频24MHz，无丝印，价格直逼8位单片机

下一篇：TLVR超级电感产品是否已实现批量直供英伟达？钧崴电子回应

康芯威申请存储器测试系统专利，在不同环境温度下对所有待测存储器进行并行测试

相关内容

热门资讯