国家知识产权局信息显示,上海东方算芯科技有限公司申请一项名为“芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品”的专利,公开号CN 120994485 A,申请日期为2025年10月。
专利摘要显示,本申请提供了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品;方法包括:获取目标算子的包括多个芯片接口指令的算子代码,目标算子和基准算子具备相同的计算功能,芯片接口指令用于实现芯片的至少一项硬件操作,组合多个芯片接口指令的硬件操作用于实现计算功能;解析算子代码,得到芯片的机器码文件;获取测试数据,并将测试数据和机器码文件传输至芯片仿真设备,芯片仿真设备用于对测试数据执行机器码文件,得到目标算子针对测试数据的仿真计算结果;从芯片仿真设备获取仿真计算结果,并获取基准算子针对测试数据的基准计算结果;基于仿真计算结果和基准计算结果,生成芯片的测试结果。通过本申请,能够加快芯片测试进度。
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来源:市场资讯