辰卓科技申请半导体测试设备自适应补偿方法专利，解决了半导体测试设备测量时难以兼顾稳定性和响应速度的问题_芯片

辰卓科技申请半导体测试设备自适应补偿方法专利，解决了半导体测试设备测量时难以兼顾稳定性和响应速度的问题

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2025-12-29 18:09:36

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国家知识产权局信息显示，深圳市辰卓科技股份有限公司申请一项名为“半导体测试设备及其自适应补偿方法”的专利，公开号CN121208570A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请实施例提供了一种半导体测试设备及其自适应补偿方法，涉及测试技术领域。其中，该方法包括：基于阶跃电压测量技术，对被测设备的负载电容进行估计，得到估计电容值；基于负载电容与补偿电容之间的映射关系，根据估计电容值计算得到补偿电容值；在通过切换多个补偿单元的工作状态而获得的可用电容值中，搜索与补偿电容值相匹配的可用电容值，作为目标补偿电容值；补偿单元的工作状态包括导通状态和断开状态；基于目标补偿电容值，对各补偿单元的工作状态进行切换，使得半导体测试设备从切换工作状态后的各补偿单元获得目标补偿电容值进行自适应补偿。本申请实施例解决了相关技术存在的半导体测试设备测量时难以兼顾稳定性和响应速度的问题。

天眼查资料显示，深圳市辰卓科技股份有限公司，成立于2013年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本3327.9492万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市辰卓科技股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息144条，此外企业还拥有行政许可9个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资稳定性测试设备测量电容补偿导体专利单元半导体电容值

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