国家知识产权局信息显示,广上科技(广州)股份有限公司申请一项名为“一种晶圆芯片的检测系统及方法”的专利,公开号CN121027153A,申请日期为2025年10月。
专利摘要显示,本发明涉及晶圆芯片检测技术领域,尤其涉及一种晶圆芯片的检测系统及方法。所述方法包括以下步骤:利用锁紧机构将待测晶圆芯片固定于承载托盘,在预设光照角度下对晶圆芯片的表面区域逐行扫描,生成对应的反射光强分布序列;当反射光强分布序列中出现连续波动区段时,提取该区段的边界曲线,判定边界曲线的延伸长度与曲率变化是否满足裂纹特征条件,在裂纹判定完成后,控制探针接触晶圆芯片的电极焊盘,施加恒定电流并记录两端电压,计算接触电阻值;将接触电阻值与预设阈值进行比对,若接触电阻超过阈值,则标记为电极失效风险点;本发明通过对晶圆芯片检测,以实现晶圆裂纹与电极失效的联合检测,提升检测准确性与可靠性。
天眼查资料显示,广上科技(广州)股份有限公司,成立于1998年,位于广州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本18409.289万人民币。通过天眼查大数据分析,广上科技(广州)股份有限公司共对外投资了3家企业,参与招投标项目9次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息78条,此外企业还拥有行政许可50个。
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来源:市场资讯