燕芯微电子申请存储器失效检测方法专利，延长存储器的工作寿命_芯片

燕芯微电子申请存储器失效检测方法专利，延长存储器的工作寿命

创始人

2026-07-11 02:21:56

0次

国家知识产权局信息显示，燕芯微电子（上海）有限公司申请一项名为“存储器的失效检测方法、装置、存储器”的专利，公开号CN122369551A，申请日期为2026年4月。

专利摘要显示，本申请涉及存储器的失效检测方法、装置、存储器。存储器的失效检测方法对存储阵列的读出数据进行错误检测，确定存储阵列中的失效单元，当满足修复触发条件时，对失效单元执行修复操作，验证失效单元是否修复成功，如果是，将失效单元标记为正常存储单元继续使用；如果否，则启用冗余单元对失效单元进行冗余替换；对失效单元执行修复操作能够修复软失效的失效单元，避免了大量正常单元被冗余单元替换占用冗余资源，以使有限的冗余单元替换无法修复的硬失效单元，提高了冗余单元的有效利用率，避免了冗余资源被可修复的软失效单元过早消耗，延缓了冗余资源的耗尽速度，从而延长了存储器的工作寿命。

天眼查资料显示，燕芯微电子（上海）有限公司，成立于2024年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本688.0163万人民币。通过天眼查大数据分析，燕芯微电子（上海）有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息8条。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

方法投资单元燕芯寿命检测冗余存储器微电子专利阵列天眼

上一篇：宸展光电：ITH Corporation主要从事显示器驱动IC之设计研发、销售及技术服务

下一篇：实测开挂辅助!“微乐八喜牌有挂吗辅助脚本,神器通用版”2026年07月11日 02时22分00秒

燕芯微电子申请存储器失效检测方法专利，延长存储器的工作寿命

相关内容

热门资讯