上海集成电路研发中心申请SRAM存储器故障定位方法专利，提升计算SRAM存储器噪声容限的效率和准确性_芯片

上海集成电路研发中心申请SRAM存储器故障定位方法专利，提升计算SRAM存储器噪声容限的效率和准确性

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2026-03-11 11:57:00

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国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司申请一项名为“SRAM存储器的故障定位方法、装置、设备、介质及产品”的专利，公开号CN121641140A，申请日期为2024年9月。

专利摘要显示，本申请提供一种SRAM存储器的故障定位方法、装置、设备、介质及产品。该方法包括：通过确定原始数据的工作模式得到预处理数据，通过预设拟合算法对预处理数据进行拟合，根据拟合结果进一步确定目标拟合曲线，之后根据工作模式确定目标拟合曲线对应的噪声容限图形，并确定目标拟合曲线中是否存在至少一个数据点在该噪声容限图形内，当确定存在数据点在该噪声容限图形内时，确定该噪声容限图形无效，否则，确定该噪声容限图形有效，并根据该噪声容限图形确定目标噪声容限，从而根据目标噪声容限确定故障信息。提升计算SRAM存储器噪声容限的效率和准确性，进一步提升确定SRAM存储器故障信息的效率和准确性。

天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目294次，财产线索方面有商标信息103条，专利信息2171条，此外企业还拥有行政许可88个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业数据投资信息定位存储器故障集成电路图形专利噪声容限

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