国家知识产权局信息显示,瑞昱半导体股份有限公司申请一项名为“电路检查方法及电路检查装置”的专利,公开号CN122131115A,申请日期为2024年12月。
专利摘要显示,本公开涉及一种电路检查方法及电路检查装置。本案提供一种电路检查方法,由处理器读取储存于存储器的至少一指令所执行。电路检查方法包含以下步骤:检查目的电路所对应的目的电源域是否处于开启状态;检查目的电路的上一级的中间电路所对应的中间电源域是否处于关闭状态;以及若中间电路所对应的中间电源域处于关闭状态,且目的电路所对应的目的电源域处于开启状态,则产生电路检查报告。
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