微铁克光电申请检测装置及检测方法专利，提高除静电的效率_芯片

微铁克光电申请检测装置及检测方法专利，提高除静电的效率

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2026-01-08 00:07:13

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国家知识产权局信息显示，上海微铁克光电设备有限公司申请一项名为“检测装置及检测方法”的专利，公开号CN121275794A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本发明提供了一种检测装置，包括：光学部、除静电部以及置物平台；所述置物平台用于放置基板；所述除静电部设置在所述置物平台的两侧，所述除静电部可在第一点位以及第二点位之间移动；所述光学部设置在所述置物平台的上方，可在平行于所述置物平台的平面内移动，用于对所述置物平台上的基板的任意位置进行观测加工；其中，当所述除静电部位于所述第一点位时，所述除静电部对所述基板的上表面进行除静电处理；当所述除静电部位于所述第二点位时，所述除静电部避开所述光学部的干涉；可移动的除静电部实现避开光学部干涉的同时，近距离去除静电，提高除静电的效率。

天眼查资料显示，上海微铁克光电设备有限公司，成立于2014年，位于上海市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本174.2627万美元。通过天眼查大数据分析，上海微铁克光电设备有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目19次，专利信息7条，此外企业还拥有行政许可5个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业方法投资上海平台检测光学装置点位专利光学部除静电静电部基板

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