众星微申请用于芯片测试的方法、装置、设备和介质专利，大幅降低测试时间与量产成本_微电子

众星微申请用于芯片测试的方法、装置、设备和介质专利，大幅降低测试时间与量产成本

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2025-12-02 09:06:16

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国家知识产权局信息显示，无锡众星微系统技术有限公司申请一项名为“用于芯片测试的方法、装置、设备和介质”的专利，公开号CN121027804A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本发明涉及芯片测试技术领域，公开了用于芯片测试的方法、装置、设备和介质，方法包括：基于芯片测试的配置需求，对多个待测试芯片中的寄存器，执行写入操作；基于写入操作执行前，目标寄存器的状态值在多个待测试芯片间的对比结果，和/或，基于写入操作执行后，目标寄存器的状态值在多个待测试芯片间的对比结果，确定目标寄存器的类型，寄存器的类型包括，静态配置寄存器和动态配置寄存器；生成与寄存器的类型对应的测试向量，基于测试向量对多个待测试芯片进行测试。可以大幅降低测试时间与量产成本，同时，可以显著降低量产阶段的时间成本与设备占用成本。

天眼查资料显示，无锡众星微系统技术有限公司，成立于2020年，位于无锡市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，无锡众星微系统技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息11条，专利信息268条，此外企业还拥有行政许可6个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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