联迪商用申请芯片测试方法专利，提高了测试效率_微电子

联迪商用申请芯片测试方法专利，提高了测试效率

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2026-04-08 06:10:34

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国家知识产权局信息显示，福建联迪商用设备有限公司申请一项名为“一种芯片测试方法及电子设备”的专利，公开号CN121807635A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请公开了一种芯片测试方法及电子设备方法包括：从基准卡中提取应用协议数据单元序列，所述基准卡包括芯片已通过目标测试的测试卡；获取交互时间阈值，根据所述应用协议数据单元序列以及所述交互时间阈值生成测试脚本；将所述测试脚本输入待预测芯片，以指示所述待预测芯片进行测试。本申请从能够执行完整测试流程并且已经通过目标测试的基准卡中获取应用协议数据单元序列，这样就实现了绕开内核的处理过程单独对数据交互过程进行时长测试，从而无需芯片内核完整开发完成再对芯片进行整体测试，减小了测试成本，同时省略了测试中的内核测试过程，从而提高了测试效率。

天眼查资料显示，福建联迪商用设备有限公司，成立于2005年，位于福州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10062.5万人民币。通过天眼查大数据分析，福建联迪商用设备有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目980次，财产线索方面有商标信息190条，专利信息1051条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业数据序列投资提高了测试芯片设备内核专利基准卡

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