杭州友旺电子取得芯片测试系统专利，提高测试人员的测试体验和测试效率_微电子

杭州友旺电子取得芯片测试系统专利，提高测试人员的测试体验和测试效率

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2025-11-27 22:09:06

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国家知识产权局信息显示，杭州友旺电子有限公司取得一项名为“芯片测试系统”的专利，授权公告号CN223597823U，申请日期为2024年11月。专利摘要显示，本实用新型实施例公开了一种芯片测试系统。本实用新型实施例的芯片测试系统包括至少一个第一信号源、芯片插座和至少一个开关阵列。其中，第一信号源包括相互独立的第一驱动端和第一感测端。芯片插座上承载待测芯片，待测芯片的第一引脚和第二引脚分别与各自对应的金手指的第一端点连接。开关阵列设置在第一驱动端和第一感测端的正负极与各金手指的第二端点之间，第一驱动端通过开关阵列的切换与芯片插座电连接，第一感测端通过开关阵列的切换与芯片插座电连接。本实用新型实施例中的芯片测试系统可以实现芯片测试以及对芯片插座与芯片和测试环境之间的接触情况检测，从而提高测试人员的测试体验和测试效率。

天眼查资料显示，杭州友旺电子有限公司，成立于1994年，位于杭州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本300万美元。通过天眼查大数据分析，杭州友旺电子有限公司共对外投资了4家企业，财产线索方面有商标信息6条，专利信息73条，此外企业还拥有行政许可9个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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