日月新检测科技申请一种集成电路分析方法专利，提升实验室分析能力_微电子

日月新检测科技申请一种集成电路分析方法专利，提升实验室分析能力

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2026-04-04 19:22:23

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国家知识产权局信息显示，日月新检测科技（苏州）有限公司申请一项名为“一种集成电路分析方法”的专利，公开号CN121783974A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种集成电路分析方法，本发明属于半导体检测与工艺领域，步骤一：提供样品，所述样品包括硅基材和覆盖在所述硅基材表面的薄膜，在所述薄膜上方设置金属层；步骤二：将所述样品固定在灌胶模具中，并向所述灌胶模具中注入混合胶以覆盖所述样品，固化后脱模；步骤三：将脱膜后的所述样品进行研磨，依次经过粗磨、细磨方式研磨至目标截面，对所述目标截面进行抛光；步骤四：对抛光后的所述目标截面进行观察分析。本发明利用溅射技术，在软固化薄膜表面沉积一层金属薄膜，实现研磨前的机械固定和保护，提高后续研磨精度、防止表面损伤，从而提升了实验室分析能力，此方法适用于薄膜或者覆有其他柔韧性膜的半导体材料研磨。

天眼查资料显示，日月新检测科技（苏州）有限公司，成立于2022年，位于苏州市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，日月新检测科技（苏州）有限公司参与招投标项目1次，专利信息34条，此外企业还拥有行政许可5个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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