国家知识产权局信息显示,XG科技私人有限公司申请一项名为“一种芯片调试方法及装置、电子设备和存储介质”的专利,公开号CN121743115A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,公开了一种芯片调试方法及装置、电子设备和存储介质,涉及集成电路领域,能够在初始化阶段临时开启调试通路完成初始化代码的调试,并在调试完成后及时关闭调试通路,保证了芯片的安全。该方法包括:在芯片上电的初始化阶段,响应于第一补丁指令,获取第一补丁数据;响应于第一补丁数据校验成功,开启第一补丁指令对应的第一调试通路,并基于第一调试通路,在芯片的初始化代码中生成对应第一补丁数据的调试断点;响应于初始化阶段运行至调试断点,执行第一补丁数据中的补丁指令,完成对调试断点对应的第一代码段的调试;在第一补丁数据中的补丁指令执行完成后,关闭第一调试通路。
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来源:市场资讯