杭州御渡半导体申请半导体自动化测试设备芯片DC参数调节方法及系统专利，实现了在测试向量执行期间DC参数的微秒级动态切换_微电子

杭州御渡半导体申请半导体自动化测试设备芯片DC参数调节方法及系统专利，实现了在测试向量执行期间DC参数的微秒级动态切换

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2026-03-28 15:50:35

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国家知识产权局信息显示，杭州御渡半导体科技有限公司申请一项名为“一种半导体自动化测试设备芯片DC参数调节方法及系统”的专利，公开号CN121741419A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明涉及半导体自动化测试设备的技术领域，特别是涉及一种半导体自动化测试设备芯片DC参数调节方法及系统。本发明的半导体自动化测试设备芯片DC参数调节方法，包括：测试向量中嵌入有DC调节指令，DC调节指令包含有DC参数调节信息；将包含有DC调节指令的测试向量编译为可执行代码；将编译后的测试向量加载到测试设备的存储器中；执行测试向量，当到达DC调节指令时，生成硬件触发信号；根据硬件触发信号，将DC参数调节信息写入芯片；基于写入的DC参数调节信息继续执行测试向量，直至结束。本发明实现了在测试向量执行期间DC参数的微秒级动态切换，提高了DC参数设置的灵活性和效率。

天眼查资料显示，杭州御渡半导体科技有限公司，成立于2021年，位于杭州市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州御渡半导体科技有限公司专利信息15条，此外企业还拥有行政许可4个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

切换信息参数向量半导体测试自动化杭州调节专利指令芯片

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