长鑫科技申请存储器件的测试方法专利，实现对缓冲电路的失调补偿_微电子

长鑫科技申请存储器件的测试方法专利，实现对缓冲电路的失调补偿

创始人

2026-03-11 15:11:16

0次

国家知识产权局信息显示，长鑫科技集团股份有限公司申请一项名为“存储器件的测试方法”的专利，公开号CN121641157A，申请日期为2026年2月。

专利摘要显示，本申请提供一种存储器件测试方法，存储器件包括命令引脚、数据引脚、缓冲电路以及失调补偿电路，缓冲电路用于接收经由命令引脚传输来的命令信号。测试方法包括：配置存储器件进入初始化训练模式，包括配置阶段、失调测试阶段以及训练阶段；在配置阶段结束后，进入失调测试阶段，且失调测试阶段与训练阶段在不同时期进行；失调测试阶段包括：在命令引脚处施加电压以形成缓冲电路的输入电压，且输入电压可调；提供失调补偿码，失调补偿码的编码值可调，编码值用于指示对缓冲电路的失调补偿程度；在数据引脚处获取缓冲电路的输出信号的状态，根据输出信号的状态确定目标编码值，目标编码值用于指示在缓冲电路正常工作期间对缓冲电路进行失调补偿。

天眼查资料显示，长鑫科技集团股份有限公司，成立于2016年，位于合肥市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本6019279.7469万人民币。通过天眼查大数据分析，长鑫科技集团股份有限公司共对外投资了18家企业，参与招投标项目1078次，财产线索方面有商标信息236条，专利信息666条，此外企业还拥有行政许可34个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业方法缓冲投资器件电路的测试补偿存储专利引脚长鑫科技引脚处

上一篇：MicroLED概念走高，沃格光电涨停，华兴源创等大涨

下一篇：聚灿光电：公司在可见光通信芯片方面尚未开展销售业务

长鑫科技申请存储器件的测试方法专利，实现对缓冲电路的失调补偿

相关内容

热门资讯