永铭电子申请固态电容外观缺陷检测装置及检测方法专利，显著提高检测的准确性和可靠性
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2025-12-30 12:08:25
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国家知识产权局信息显示，上海永铭电子股份有限公司申请一项名为“固态电容外观缺陷检测装置及检测方法”的专利，公开号CN121198608A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及固态电容生产技术领域，公开了固态电容外观缺陷检测装置及检测方法，包括基台和进料管，所述基台上安装有转盘和驱动件，所述基台上固定有外罩，所述外罩顶部设有顶盖，所述顶盖底部设有连接筒，所述连接筒底部设有弹片，所述连接筒侧面开设有进料孔，所述转盘上安装有若干组检测组件，所述外罩外表面开设有三组出料孔，所述基台上依次设置有出料槽一、出料槽二和出料槽三。通过采用物理检测方式对固态电容的直径和高度进行检测，相较于现有技术中的成像检测技术，有效避免了图像畸变、光照干扰等因素对检测结果的影响，显著提高了检测的准确性和可靠性，同时降低了设备成本和维护难度。
天眼查资料显示，上海永铭电子股份有限公司，成立于2004年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本3000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海永铭电子股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目19次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息152条，此外企业还拥有行政许可25个。
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来源：市场资讯
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