国家知识产权局信息显示,上海传芯半导体有限公司申请一项名为“半导体基板缺陷检测设备及方法”的专利,公开号CN121843491A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,一种装置及方法,该装置包括腔室主体、基板载台、翻转机械臂、聚光灯、图像采集装置和控制器,腔室主体具有上料口和下料口,且腔室主体内设置有安装板,基板载台设置在所述安装板上,且基板载台与上料口相邻设置,翻转机械臂设置在安装板上,翻转机械臂用于在基板载台和下料口之间传输半导体基板,且翻转机械臂被配置为能够带动半导体基板翻转,聚光灯和图像采集装置设置在腔室主体的侧壁上,且聚光灯和图像采集装置位于上料口上方,控制器具有显示屏,控制器分别与基板载台、翻转机械臂、聚光灯和图像采集装置电连接。本发明能够提高半导体基板的缺陷检测效率,降低半导体基板缺陷检测的成本。
天眼查资料显示,上海传芯半导体有限公司,成立于2020年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本9376.6144万人民币。通过天眼查大数据分析,上海传芯半导体有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目5次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息127条,此外企业还拥有行政许可17个。
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来源:市场资讯