国家知识产权局信息显示,瑞昱半导体股份有限公司申请一项名为“具有边界测试的芯片与边界测试系统”的专利,公开号CN121741460A,申请日期为2024年9月。
专利摘要显示,本申请公开了一种具有边界测试的芯片以及边界测试系统,该芯片包含二待测电路群。在第一移位输入期间中,第一待测电路群接收第一测试输入,且第一待测电路群的第一边界电路在接收第一测试输入后具有第一边界数据。在第一移位输入期间后的第一运算期间中,第二待测电路群的第二边界电路撷取第一边界数据,且第二待测电路群根据第一边界数据执行电路运算以产生第一测试输出。在第一运算期间后的第二移位输入期间中,第二待测电路群的第二主电路输出第一测试输出。
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