晶晨半导体申请产品测试方法专利，大大减少程序维护时间和人力_电子电器

晶晨半导体申请产品测试方法专利，大大减少程序维护时间和人力

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2026-03-07 20:45:39

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国家知识产权局信息显示，晶晨半导体(上海)股份有限公司申请一项名为“产品测试方法、可读存储介质、产品测试系统和测试设备”的专利，公开号CN121614378A，申请日期为2024年8月。

专利摘要显示，本发明公开了一种产品测试方法、可读存储介质、产品测试系统和测试设备，其中，产品测试方法包括：识别待测试产品的身份信息；根据身份信息获取测试程序包和与待测试产品相对应的测试文件，其中，测试程序包至少包含全部待测试产品的测试程序；根据测试文件，在测试程序包中调取用于测试待测试产品的测试程序；运行测试程序并获取测试结果。该产品测试方法，减少了测试程序的版本数量，只需要日常维护一套程序，大大减少程序维护时间和人力，也间接减少了人工操作维护的环节，大大降低错误发生的风险。

天眼查资料显示，晶晨半导体(上海)股份有限公司，成立于2003年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本42116.5613万人民币。通过天眼查大数据分析，晶晨半导体(上海)股份有限公司共对外投资了11家企业，参与招投标项目6次，财产线索方面有商标信息33条，专利信息361条，此外企业还拥有行政许可21个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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