博思芯宇申请算力芯片状态评估方法专利，提高算力芯片状态评估分级的准确率_电子电器

博思芯宇申请算力芯片状态评估方法专利，提高算力芯片状态评估分级的准确率

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2026-01-13 00:07:23

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国家知识产权局信息显示，杭州博思芯宇科技有限公司申请一项名为“算力芯片的状态评估方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN121299426A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请涉及算力芯片的状态评估方法、装置、设备及存储介质。方法包括：获取目标算力芯片的目标参考测试频率；基于目标参考测试频率，根据预定的标准电压确定目标算力芯片的算子集的第一计算结果，以及根据梯度电压偏置条件确定目标算力芯片的算子集的第二计算结果；根据第一计算结果与第二计算结果，确定测试算子运行时的错误计数和首次出错电压；根据错误计数和首次出错电压，计算电压裕量因子以及错误概率与电压点之间的最大拟合斜率；根据电压裕量因子和错误概率的最大拟合斜率，结合状态评估参数优先级进行算力芯片状态评估。本申请能够精确捕捉到施加不同电压偏置时发生计算错误的数据，更有利于提高算力芯片状态评估分级的准确率。

天眼查资料显示，杭州博思芯宇科技有限公司，成立于2024年，位于杭州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本680.6756万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州博思芯宇科技有限公司共对外投资了4家企业，专利信息4条。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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