优普纳科技申请片式绕线电感外观缺陷检测方法、系统及计算设备专利，实现高效精确的全类型外观缺陷检测_半导体

优普纳科技申请片式绕线电感外观缺陷检测方法、系统及计算设备专利，实现高效精确的全类型外观缺陷检测

创始人

2025-12-08 19:36:46

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国家知识产权局信息显示，江苏优普纳科技有限公司申请一项名为“片式绕线电感外观缺陷检测方法、系统及计算设备”的专利，公开号CN121073921A，申请日期为2025年8月。

专利摘要显示，本发明公开了一种片式绕线电感外观缺陷检测方法、系统及计算设备，方法包括：获取片式绕线电感的正面外观图像；利用YOLO-IDConv目标检测模型，基于正面外观图像预测出第一缺陷的类型和位置信息，第一缺陷包括虚焊缺陷、电极破损缺陷、线伤缺陷、引线压伤缺陷中的一种或多种；利用Unet-CA-Resnet网络对正面外观图像进行图像分割，并对分割结果图像进行区域差分得到分割结果差分图像，从差分图像提取多种缺陷特征，根据多种缺陷特征判断片式绕线电感是否存在第二缺陷，得到第二缺陷检测结果，第二缺陷包括侧反焊缺陷、电极发黑缺陷、引线乱绕缺陷、脱线缺陷、焊点窄缺陷、长线尾缺陷、焊点偏移缺陷。本发明能够实现对片式绕线电感进行高效、精确的全类型外观缺陷检测。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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