兆兴博拓取得红外线传感器芯片测试装置专利，可测试芯片在不同温度下的工作可靠性_半导体

兆兴博拓取得红外线传感器芯片测试装置专利，可测试芯片在不同温度下的工作可靠性

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2026-09-13 10:59:31

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国家知识产权局信息显示，深圳市兆兴博拓科技股份有限公司取得一项名为“一种红外线传感器芯片测试装置”的专利，授权公告号CN224744429U，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种红外线传感器芯片测试装置，包括测试台，测试台上安装有密封箱，测试台顶部中心安装有放置台，放置台上开设有芯片槽，芯片槽后壁安装有测试探针，放置台内安装有换热管，换热管两端均安装有连接法兰，芯片槽内安装有多个热电偶。本实用新型通过将芯片放置于芯片槽内，并使其引脚与测试探针相连，随后采用红外光对其进行照射测试，在此过程中，将冷水或热水管依次与连接法兰相连，将冷水或热水导入换热管内，并通过热电偶来实时监测芯片槽的温度，从而对芯片槽内的芯片进行冷热变化，并记录此时的芯片数据变化，从而芯片在不同温度下其实际工作的可靠性，以及芯片性能变化与温度变换的关联性。

天眼查资料显示，深圳市兆兴博拓科技股份有限公司，成立于2016年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本8000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市兆兴博拓科技股份有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目12次，财产线索方面有商标信息10条，专利信息99条，此外企业还拥有行政许可30个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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