高德智感申请双光图像配准方法及系统专利，可直接部署于低算力嵌入式平台_半导体

高德智感申请双光图像配准方法及系统专利，可直接部署于低算力嵌入式平台

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2026-02-28 23:17:00

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国家知识产权局信息显示，武汉高德智感科技有限公司申请一项名为“一种双光图像配准方法及系统”的专利，公开号CN121582308A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明提供了一种双光图像配准方法及系统，其包括：获取同一场景的第一原始图像以及第二原始图像；对第二原始图像进行裁剪，以获得包含第一原始图像成像视野的裁剪图像；对第一原始图像、裁剪图像分别进行特征点检测；将裁剪图像的特征点像素坐标映射到第二原始图像坐标系中；根据第一原始图像的特征点集、映射特征点集完成特征点匹配；以及，基于单应性矩阵对第二原始图像进行透视变换，以得到配准图像。本发明通过定位区域划分，以提高后续特征点配准的效率。同时，将增强的轻量化XFeat模型作为特征点检测模型，以满足像素级配准精度的要求，同时可直接部署于低算力嵌入式平台上，以大幅简化网络架构复杂度，增强处理效率。

天眼查资料显示，武汉高德智感科技有限公司，成立于2016年，位于武汉市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本6000万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉高德智感科技有限公司参与招投标项目73次，财产线索方面有商标信息77条，专利信息404条，此外企业还拥有行政许可5个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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