瞻芯电子取得测试装置及测试系统专利，能够对多个测试电路进行老化测试_半导体

瞻芯电子取得测试装置及测试系统专利，能够对多个测试电路进行老化测试

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2025-12-31 09:37:57

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国家知识产权局信息显示，上海瞻芯电子科技股份有限公司取得一项名为“测试装置及测试系统”的专利，授权公告号CN223742633U，申请日期为2025年2月。

专利摘要显示，本实用新型涉及一种涉及测试领域，尤其涉及一种测试装置及测试系统，所述测试装置中，移相全桥单元的第一负载端连接于各个变压器的初级绕组的第一端，移相全桥单元的第二负载端连接于各个变压器的初级绕组的第二端，移相全桥单元用于将直流电源输出的直流电压转换为交流电压，各个变压器的次级绕组接于相应测试电路的第一测试端、第二测试端，第一测试端、第二测试端用于输出测试信号对相应的测试电路进行测试，各个测试电路的正反馈端连接于反馈模块的第二端，各个测试电路的负反馈端连接于直流电源的负极。本实用新型实施例能够对多个测试电路进行老化测试，具有低设备复杂性及成本的特点。

天眼查资料显示，上海瞻芯电子科技股份有限公司，成立于2017年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本7986.9299万人民币。通过天眼查大数据分析，上海瞻芯电子科技股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息32条，专利信息77条，此外企业还拥有行政许可4个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资电路电子全桥测试装置瞻芯系统专利变压器馈端

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